S2012PV - flexible Inspektionslösungen für die Photovoltaikindustrie
Anwendungsbereiche
Stetig wachsende Anforderungen an die Qualität von Solarzellen und -wafern erfordern effektive und schnelle optische Charakterisierungssysteme.
Die S2012PV bietet die Grundlage für ein umfassendes AOI-System zur Solarzelleninspektion. Alle Anwendungen wie Wafereingangskontrolle (Geometrie, Risse, Farbe), Zellencharakterisierung (Geometrie, Druckbild, Risse, Farbe) und Zellenendkontrolle (Geometrie, Druckbild, Risse, Farbe, Mikrorisse) werden mit dem Viscom-Bildverarbeitungskonzept abgedeckt – und das bei besonders großer Prüftiefe.
Die leistungsstarke VisCam-Sensorik kann modular an jedes Prüftor und für jede Charakterisierungsaufgabe angepasst werden. Sie garantiert eine gleichbleibend gute Qualität in der Zellenfertigung.
Das AOI-System S2012PV ist besonders einfach in die Fertigungsumgebung integrierbar. Das ausgefeilte Kalibrationskonzept sorgt für echte Maßtreue und für eine dauerhafte Reproduzierbarkeit aller Prüfaufgaben.
Highlights
- Schnelle, objektive und reproduzierbare Analyse
- Einsetzbar für viele Prüfaufgaben
- Robuste Fehlererkennung im Linientakt
- Ausgefeiltes Kalibrationskonzept für echte Maßtreue und eine dauerhafte Reproduzierbarkeit aller Prüfaufgaben
- Viscom VMC-Bedienoberfläche für einfache Bedienung
- Einfache Integration in bestehende Prozesse
- Gesamtbildauswertung mit höchster Auflösung
- Farbklassifizierung
